Germán Oggier

Nota técnica | Estrategia de detección de fallas de circuito abierto en semicondutores de convertidores CC-CC aislados

Por Andrés M. Airabella*, Germán G. Oggier, Laureano Piris-Botalla, Cristian A. Falco, Guillermo O. García
Grupo de Electrónica Aplicada (GEA), Facultad de Ingeniería, Universidad Nacional de Río Cuarto

Publicado en:

Revista Ingeniería Eléctrica

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Tipo de artículo:

Artículo técnico

Todas las publicaciones de:

Universidad Nacional de Río Cuarto

Grupo de Electrónica Aplicada (GEA)

Autor:

Andrés Airabella

Laureano Piris-Botalla

Guillermo García

Palabra clave:

fallas de circuito abierto

semiconductores de convertidores

convertidor CC-CC

puentes duales activos

diagnóstico de fallas