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Nota técnica | Estrategia de detección de fallas de circuito abierto en semicondutores de convertidores CC-CC aislados

 

Por Andrés M. Airabella*, Germán G. Oggier, Laureano Piris-Botalla, Cristian A. Falco, Guillermo O. García
Grupo de Electrónica Aplicada (GEA), Facultad de Ingeniería, Universidad Nacional de Río Cuarto

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